Использование методов фотометрии в задаче определения ненормализованных моментов для поперечных сечений частиц

Микроструктуру рассеивающей среды можно описать посредством ненормализованных моментов. Под ненормализованными моментами мы подразумеваем сумму степеней для площади поперечных сечений частиц. Угловой размер ореола рассеяния вперед и эквивалентное сечение можно связать с отношением ненормализованных моментов второго и первого порядков. Коэффициент пропускания можно связать с ненормализованным моментом первого порядка. По ненормализованным моментам высших порядков можно получить информацию о функции распределения частиц по площади поперечных сечений. Метод может иметь метрологическое обеспечение если указанные ненормализованные моменты являются измеримыми величинами. Ранее обосновано, что ненормализованные моменты высших порядков могут быть найдены по изображениям сечений с помощью цифровой обработки. Другим способом измерения ненормализованных моментов высших порядков является использование 3d экранов. Перфорированный 3d экран представляет собой изготовленный по снимку частиц экран некоторой толщины с отверстиями. Посредством только одного перфорированного экрана измеряется ненормализованный момент второго порядка. Сборка из трех 3d экранов дает возможность измерить ненормализованный момент четвертого порядка. Разработка метода измерения ненормализованных моментов высших порядков открывает новые возможности для измерений угловых параметров пропускания излучения для эталонных рассеивающих объектов. Предложенный метод с использованием 3d экранов открывает новые возможности для метрологического обеспечения измерений эквивалентных сечений рассеивающих частиц включая аномальные рассеивающие неоднородности в виде цепочек и нитей.